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          如何為您的電子元件鍍層挑選合適的XRF配置

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          如何為您的電子元件鍍層挑選合適的XRF配置

          發布日期:2021-12-22 作者:譜賽斯 點擊:

          XRF剖析儀有多種裝備可供挑選:探測器類型、光學系統類型、自動化裝備,乃至是臺式或手持式剖析儀。在本文中,我們將探討運用XRF丈量電子元件鍍層所存在的應戰,并評論在出產環境中實現牢靠和快速丈量的Z佳裝備。

          微信圖片_20211222162227.jpg

          外形要素:手持式還是臺式XRF剖析儀?

          今日,手持式和臺式剖析儀均可在簡直一切類型的基材上丈量0.001-50μm(0.05-2000 微英寸)的金屬鍍層厚度。兩種裝備該挑選哪一個更取決于實用性,而不是功能。假如您丈量的是十分大的部件,有相對大的鍍層面積,肉眼很容易看到(而且能夠用手輕松地將剖析儀抵近到位),那么手持式剖析儀是Z合適的。

          但是,許多電子元件徹底不是這樣。這些電子元件十分微小,需求經過顯微鏡和照相機設備定位,并運用精細載物臺和專用光學器材,來保證準確地剖析正確的特定測點。關于電子元件來說,臺式剖析儀簡直總是人們挑選的類型。

          決定要素:元件的尺度和被測特定測點的尺度。您能把您的元件帶到實驗室嗎?假如不能的話,那么您需求一臺手持式剖析儀。您需求丈量小于1mm的面積嗎?假如是的話,那么您需求一臺臺式剖析儀。

          光圈類型:準直器還是毛細管光學組織?

          剖析儀的光圈將發生的x射線引導并聚集到樣品外表。發生的光斑必須小于您需求丈量的零件,您挑選的光學器材將由您的零件尺度決定。

          XRF剖析儀通常配有兩種類型光圈中的一種:準直器或毛細管光學組織。準直器是一個有孔的金屬塊,一部分X射線信號經過孔到達樣品。關于丈量100μm和更大的零件,這是一個不錯的挑選。毛細管光學組織運用特殊的玻璃毛細管搜集簡直一切的X射線信號,并將其聚集到一個十分小的點。這使您能夠丈量小于50 μm的零件。與準直器裝備比較,由于運用了更高份額的X射線,因而這項技能對較薄的鍍層也有更好的精度。

          決定要素:光斑大小。關于小于50μm的零件,您需求毛細管光學組織,若大于此尺度,準直器裝備可能會更合適。

          探測器類型:份額計數器還是硅漂移探測器?

          XRF剖析儀中主要有兩種類型的探測器:份額計數器和根據半導體的探測器,硅漂移探測器(SDD)是Z常見的半導體探測器。決定哪種技能Z適合您的應用可能很扎手,因為這兩種技能在不同的情況下均有各自的優勢。

          份額計數器由惰性氣體封裝于金屬圓柱體中構成,當惰性氣體遭到X射線炮擊時會發生電離。它們對像錫或銀這樣的高能量元素有很好的靈敏度,關于元素較少的簡略剖析十分有用。

          SDD是半導體器材,當遭到X射線炮擊時會發生特定數量的電荷。當您對樣品中的幾種元素感興趣時,或者在檢測低能量元素,如磷時,它們能供給更好的分辨率。

          下圖說明了同一樣品中份額計數器和SDD的輸出差異。紅色峰表明SDD輸出,灰色光譜表明份額計數器。

          微信圖片_20211222162236.jpg

          決定要素:這很雜亂,但假如您需求丈量多種不同的元素或十分薄或雜亂的鍍層,那么SDD是Z佳挑選。


          本文網址:http://www.findht.com/news/459.html

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