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          如何減少您的鍍層厚度XRF測量錯誤

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          如何減少您的鍍層厚度XRF測量錯誤

          發布日期:2022-01-10 作者:譜賽斯 點擊:

          XRF分析是一種成熟、值得信任的可靠技能,可用于丈量從珠寶到工程設備等各種部件的鍍層厚度。作為質量操控流程的一個關鍵部分,您很可能會依托XRF的測驗成果來操控流程,并在發貨前測驗成品部件的質量。

          但是,盡管XRF是一種可靠的技能,但它也很容易得到錯誤成果,尤其是對于鍍層厚度丈量。在這篇文章中,我們將討論您的XRF丈量出錯的原因,以及您可以采取的預防措施。

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          XRF錯誤的源頭

          一般來說,丈量犯錯有兩種原因:要么您的儀器有問題,要么您的丈量方法有問題。咱們先來看看儀器方面的問題。

          如何保證您的XRF工作正常。

          XRF分析儀是一種精密儀器,在其使用期內–從您完結慣例查看到制造商年檢都需求小心使用。這是您保證XRF提供正確成果所需的必要工作。

          *常規儀器檢測 

          常規儀器檢測查看由操作員按照制造商主張的時刻距離進行。此類查看會監測儀器的內部性能,如X射線探測器強度、探測器分辨率和探測器增益。假如發現纖細改變,儀器會主動進行調整。而假如改變超出預期,您的分析儀會發出警報,此刻需求聯絡制造商。遵守制造商主張的查看距離是很重要的——假如時刻距離太長,就會錯失發現纖細改變的機遇,假如時刻距離太短,分析儀可能會過度糾正,因此也可能帶來錯誤。

          *校準 

          進行常規儀器查看之后,在使用XRF分析儀進行質量操控之前,您需求驗證您的校準。您可以使用已知的出產零件或參閱樣(也稱為規范樣)。重要的是,此類參閱樣須從經認證的供應商處購買,Z好定期由ISO17025認可實驗室對其進行重新認證。

          *儀器認證 

          作為儀器年檢的一部分,主張您讓原始制造商對您的XRF分析儀進行重新認證,保證靈敏部件正常工作。這一般由專業工程師進行,其將進行全面診斷并提出相應主張。 


          可能導致誤差的分析錯誤

          即便運用設置完美的儀器,在進行丈量時,還會有其他因素可能導致過錯。

          *未履行樣品對焦 

          保證樣品被正確對焦是丈量過程中的一個關鍵步驟。保證X射線管、樣品和探測器彼此之間的間隔固定,這關于準確的鍍層厚度結果至關重要。假如X射線管、樣品和探測器彼此之間的間隔太大,則鍍層會變薄,反之亦然。假如您要丈量多層鍍層,過錯就會疊加。

          *基底改變

          基底內的其他元素會干擾鍍層間的X射線相互作用。這意味著產生的X射線信號與正確的鍍層厚度無法關聯。好在目前這種影響已被充分認識理解,所以假如您運用與您的實際基底十分類似的資料進行校準,則可補償這種影響。本質上,您的基底資料需與您的校準參閱樣十分類似。

          *超出校準范圍的測量

          您儀器的校準是針對有限規模內的鍍層厚度和成分進行優化。在較大規模內,鍍層厚度和X射線強度之間的關系不是線性的,因而您不能保證在儀器校準規模之外也獲得牢靠的結果。您的XRF制造商能夠告訴您校準的測試極限,而且您也能夠在軟件上設置警告,假如丈量值超出“安全”規模,就會提示操作員,如此您能夠保證一直在校準極限規模內進行丈量。






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