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          北京X射線熒光測量儀FT160

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          北京X射線熒光測量儀FT160

          • 所屬分類:北京牛津日立鍍層測厚儀

          • 點擊次數:
          • 發布日期:2021/12/07
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          詳細介紹

          X射線熒光測量儀FT160

          一、FT160系列鍍層測厚儀產品介紹:

              FT160系列鍍層測厚儀旨在應對超薄鍍層的挑戰,例如當今不斷縮小的電子元器件的鍍層。其提供快速、準確和可重復的結果,有校提高生產力,同時減少PCB、半導體和微型接口等元器件上鍍層不合規所帶來的成本浪費。FT160系列鍍層測厚儀易于使用、可輕松集成質量保證/質量控制流程,在問題引發危機之前及時發出提醒。

              FT160系列鍍層測厚儀采用了新款高分辨率樣品觀察相機和改進的照明,樣品的預覽和測量點的選擇變得更加清晰和簡便。

          二、FT160系列鍍層測厚儀特點:

          1、高性能XRF鍍層測厚儀,適用于超小部件上的超薄鍍層分析;

          2、使用多毛細管光學聚焦系統,光斑尺寸<50um;

          3、數秒間測試納米級鍍層厚度;

          4、簡單易用的操作軟件;

          5、強大的數據處理能力。

          三、FT160系列鍍層測厚儀適用的厚度范圍:

          四、FT160系列鍍層測厚儀-XRF結構:

             FT160系列鍍層測厚儀強大功能使其成為實驗室的理想選擇:有著安排緊湊的工作流程,但精度、多功能性和效率是維持此工作流程正常運轉的必備要素。



          FT160旨FT在應對超薄鍍層的挑戰,例如當今不斷縮小的電子元器件的鍍層。其提供快速、準確和可重復的結果,有效提高生產力,同時減少PCB、半導體和微型接口等元器件上鍍層不合規格所帶來的成本浪費。FT160易于使用、可輕松集成質量保證/質量控制流程,在問題引發危機之前及時發出提醒。FT160旨在應對超薄鍍層的挑戰,例如當今不斷縮小的電子元器件的鍍層。其提供快速、準確和可重復的結果,有效提高生產力,同時減少PCB、半導體和微型接口等元器件上鍍層不合規格所帶來的成本浪費。FT160易于使用、可輕松集成質量保證/質量控制流程,在問題引發危機之前及時發出提醒。


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